DIN 41850-1-1986 胶片集成电路.第1部分:基质
作者:标准资料网
时间:2024-05-15 12:03:22
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【英文标准名称】:Integratedfilmcircuits;substrates
【原文标准名称】:胶片集成电路.第1部分:基质
【标准号】:DIN41850-1-1986
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1986-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄膜电路;衬底(绝缘);玻璃;公差;电气工程;材料;规范(审批);粗糙度;尺寸;特性;陶瓷;集成电路;材料强度;检验
【英文主题词】:dimensions;specification(approval);roughness(surface);integratedcircuits;properties;glass;filmcircuits;substrates(insulating);ceramics;tolerances(measurement);electricalengineering;materials;inspection;strengthofmaterials
【摘要】:Thisstandardcomprisesthetechnicalvaluesandtestsforceramicsubstratesforintegratedthickfilmcircuitsaswellasthoseforceramicandglasssubstratesforintegratedthinfilmcircuits.
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:胶片集成电路.第1部分:基质
【标准号】:DIN41850-1-1986
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1986-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄膜电路;衬底(绝缘);玻璃;公差;电气工程;材料;规范(审批);粗糙度;尺寸;特性;陶瓷;集成电路;材料强度;检验
【英文主题词】:dimensions;specification(approval);roughness(surface);integratedcircuits;properties;glass;filmcircuits;substrates(insulating);ceramics;tolerances(measurement);electricalengineering;materials;inspection;strengthofmaterials
【摘要】:Thisstandardcomprisesthetechnicalvaluesandtestsforceramicsubstratesforintegratedthickfilmcircuitsaswellasthoseforceramicandglasssubstratesforintegratedthinfilmcircuits.
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:德语
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